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一種太陽敏感器及其進行姿態測量的方法.pdf

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一種 太陽 敏感 及其 進行 姿態 測量 方法
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摘要
申請專利號:

CN201410255407.9

申請日:

2014.06.10

公開號:

CN103983237A

公開日:

2014.08.13

當前法律狀態:

授權

有效性:

有權

法律詳情: 授權|||實質審查的生效IPC(主分類):G01C 1/00申請日:20140610|||公開
IPC分類號: G01C1/00 主分類號: G01C1/00
申請人: 北京航空航天大學
發明人: 樊巧云; 高鑫洋; 張廣軍
地址: 100083 北京市海淀區學院路37號
優先權:
專利代理機構: 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270 代理人: 張穎玲;王黎延
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法律狀態
申請(專利)號:

CN201410255407.9

授權公告號:

||||||

法律狀態公告日:

2019.02.19|||2017.03.01|||2014.08.13

法律狀態類型:

授權|||實質審查的生效|||公開

摘要

本發明公開了一種太陽敏感器,包括:光學掩膜,帶有V字形狹縫,用于通過所述V字形狹縫的兩條縫分別濾波并引入第一條太陽光線及第二條太陽光線到線陣圖像傳感器;線陣圖像傳感器,用于對入射的太陽光線進行光電轉換,并逐個輸出各像素的模擬電壓值到單片機;所述單片機,用于驅動所述線陣圖像傳感器并逐個讀取各像素的模擬電壓值;根據各像素的模擬電壓值,提取第一條太陽光線對應的第一交點的中心位置信息和第二條太陽光線對應的第二交點的中心位置信息;根據第一交點的中心位置信息及第二交點中心位置信息,測算出太陽光線在兩軸方向的姿態角。本發明既具有小型化和集成化的結構,又能夠快速、精確地測量出太陽光線在兩軸方向的姿態角;且功耗低、成本低。

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本文標題:一種太陽敏感器及其進行姿態測量的方法.pdf
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