鬼佬大哥大
  • / 12
  • 下載費用:30 金幣  

一種用于城市地區的顆粒物光學厚度遙感監測方法.pdf

關 鍵 詞:
一種 用于 城市 地區 顆粒 光學 厚度 遙感 監測 方法
  專利查詢網所有資源均是用戶自行上傳分享,僅供網友學習交流,未經上傳用戶書面授權,請勿作他用。
摘要
申請專利號:

CN201410158796.3

申請日:

2014.04.21

公開號:

CN103954974A

公開日:

2014.07.30

當前法律狀態:

駁回

有效性:

無權

法律詳情: 發明專利申請公布后的駁回IPC(主分類):G01S 17/95申請公布日:20140730|||實質審查的生效IPC(主分類):G01S 17/95申請日:20140421|||公開
IPC分類號: G01S17/95 主分類號: G01S17/95
申請人: 山東科技大學
發明人: 孫林
地址: 266590 山東省青島市經濟技術開發區前灣港路579號
優先權:
專利代理機構: 濟南舜源專利事務所有限公司 37205 代理人: 王連君
PDF完整版下載: PDF下載
法律狀態
申請(專利)號:

CN201410158796.3

授權公告號:

||||||

法律狀態公告日:

2017.05.31|||2014.08.27|||2014.07.30

法律狀態類型:

發明專利申請公布后的駁回|||實質審查的生效|||公開

摘要

本發明公開了一種用于城市地區的顆粒物光學厚度遙感監測方法,其包括以下步驟:MODIS數據的預處理,包括幾何糾正,云識別,清晰圖像的大氣糾正;根據預處理后得到的清晰圖像和待反演圖像的幾何參數,耦合構建的城市地區BRDF模型,獲取待反演圖像的地表反射率;針對城市地區這一特殊的地表結構,提出改進的結構函數法,計算待反演圖像的地表反射率結構函數值和表觀反射率的結構函數值;最后根據待反演影像的幾何條件構建反演顆粒物光學厚度的查找表,通過該影像的地表反射率及表觀反射率的結構函數值查找其氣溶膠光學厚度。改進的結構函數計算方法能有效降低由于多幅圖像的匹配誤差對計算結果的影響,在城市地區具有更高的穩定性,提高了顆粒物光學厚度反演的準確性。

關于本文
本文標題:一種用于城市地區的顆粒物光學厚度遙感監測方法.pdf
鏈接地址:http://www.wwszu.club/p-6140619.html
關于我們 - 網站聲明 - 網站地圖 - 資源地圖 - 友情鏈接 - 網站客服 - 聯系我們

[email protected] 2017-2018 zhuanlichaxun.net網站版權所有
經營許可證編號:粵ICP備17046363號-1 
 


收起
展開
鬼佬大哥大 6974744288976167959499607358266275083745315827658691595266835641845526181578122721402323577199462142 (function(){ var bp = document.createElement('script'); var curProtocol = window.location.protocol.split(':')[0]; if (curProtocol === 'https') { bp.src = 'https://zz.bdstatic.com/linksubmit/push.js'; } else { bp.src = 'http://push.zhanzhang.baidu.com/push.js'; } var s = document.getElementsByTagName("script")[0]; s.parentNode.insertBefore(bp, s); })();