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一種光器件光譜響應測量方法、測量系統.pdf

摘要
申請專利號:

CN201410145131.9

申請日:

2014.04.11

公開號:

CN103954356A

公開日:

2014.07.30

當前法律狀態:

授權

有效性:

有權

法律詳情: 授權|||實質審查的生效IPC(主分類):G01J 3/28申請日:20140411|||公開
IPC分類號: G01J3/28 主分類號: G01J3/28
申請人: 南京航空航天大學
發明人: 潘時龍; 薛敏; 唐震宙; 趙永久; 張方正; 朱丹
地址: 210016 江蘇省南京市秦淮區御道街29號
優先權:
專利代理機構: 南京經緯專利商標代理有限公司 32200 代理人: 楊楠
PDF完整版下載: PDF下載
法律狀態
申請(專利)號:

CN201410145131.9

授權公告號:

||||||

法律狀態公告日:

2016.02.17|||2014.08.27|||2014.07.30

法律狀態類型:

授權|||實質審查的生效|||公開

摘要

本發明公開了一種光器件光譜響應測量方法,屬于光學測量技術領域。本發明方法將單波長的光探測信號分為兩路,一路以固定的頻移量進行移頻操作,另一路通過待測光器件;然后對兩路光進行拍頻,得到攜帶待測光器件在光探測信號頻率處的光譜響應信息的射頻信號;利用工作頻率與所述頻移量相同的射頻幅相提取裝置提取所述射頻信號的幅度相位信息,得到待測光器件在光探測信號頻率處的幅頻響應與相頻響應;改變所述光探測信號的波長并重復上述過程,得到待測光器件的光譜矢量響應信息。本發明還公開了一種光器件光譜響應測量系統。相比現有技術,本發明能夠在實現光器件幅頻響應和相頻響應的高精度測量的同時,大幅降低成本。

權利要求書

權利要求書
1.  一種光器件光譜響應測量方法,其特征在于,將單波長的光探測信號分為兩路,一路以固定的頻移量進行移頻操作,另一路通過待測光器件;然后對兩路光進行拍頻,得到攜帶待測光器件在光探測信號頻率處的光譜響應信息的射頻信號;利用工作頻率與所述頻移量相同的射頻幅相提取裝置提取所述射頻信號的幅度相位信息,得到待測光器件在光探測信號頻率處的幅頻響應與相頻響應;改變所述光探測信號的波長并重復上述過程,得到待測光器件的光譜矢量響應信息。

2.  一種光器件光譜響應測量系統,其特征在于,包括:
光源模塊,用于輸出單波長掃頻光探測信號;
光分束器,用于將光源模塊輸出的光探測信號分為兩路;
移頻模塊,用于對光分束器輸出的其中一路光探測信號以固定的頻移量進行移頻操作;
光合束器,用于將移頻操作后的光探測信號與經過待測光器件的光探測信號進行合束;
光探測模塊,用于對光合束器輸出的合束光進行光電探測,輸出攜帶待測光器件在光探測信號頻率處的光譜響應信息的射頻信號;
幅相接收模塊,用于提取所述光探測模塊輸出的射頻信號的幅度相位信息,其工作頻率與所述移頻模塊的頻移量相同;
控制及數據處理模塊,用于控制光源模塊進行頻譜掃描,同時對幅相接收模塊輸出的幅度相位信息進行處理并輸出待測光器件的光譜矢量響應信息。

3.  如權利要求2所述光器件光譜響應測量系統,其特征在于,所述移頻模塊為聲光調制器。

4.  如權利要求2或3所述光器件光譜響應測量系統的使用方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1、將所述光分束器未連接移頻模塊的另一個輸出端,以及所述光合束器未連接移頻模塊的另一個輸入端作為兩個測試端口,在這兩個測試端口直接連接的情況下,控制及數據處理模塊控制所述光源模塊進行掃頻,同時控制幅相提取模塊提取掃頻光探測信號各頻點處的幅度和相位變化,得到所述測量系統的矢量響應函數;
步驟2、在所述兩個測試端口間級聯待測光器件的情況下,控制及數據處理模塊控制所述光源模塊進行掃頻,同時控制幅相提取模塊提取掃頻光探測信號各頻點處的幅度和相位變化,得到待測光器件與測量系統的聯合矢量響應函數;
步驟3、用聯合矢量響應函數除以測量系統的矢量響應函數,得到待測光器件的幅頻響應與相頻響應。

關 鍵 詞:
一種 器件 光譜 響應 測量方法 測量 系統
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