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彈性體層及其檢驗方法.pdf

摘要
申請專利號:

CN201410140982.4

申請日:

2014.04.10

公開號:

CN103956291A

公開日:

2014.07.30

當前法律狀態:

授權

有效性:

有權

法律詳情: 授權|||實質審查的生效IPC(主分類):H01H 13/7065申請日:20140410|||公開
IPC分類號: H01H13/7065; H01H13/704; G01N21/84 主分類號: H01H13/7065
申請人: 蘇州達方電子有限公司; 達方電子股份有限公司
發明人: 陳詩凱
地址: 215011 江蘇省蘇州市高新區竹園路99號
優先權:
專利代理機構: 代理人:
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法律狀態
申請(專利)號:

CN201410140982.4

授權公告號:

||||||

法律狀態公告日:

2015.12.30|||2014.08.27|||2014.07.30

法律狀態類型:

授權|||實質審查的生效|||公開

摘要

本發明提供一種彈性體層及彈性體層檢驗方法,彈性體層包括透光基板、彈性體及接著劑。彈性體具有彈性體下表面,彈性體下表面具有預設粘著區,彈性體設置于透光基板上方。接著劑設置于彈性體下表面與透光基板之間。接著劑在透光基板上占據涂布區域,涂布區域與預設粘著區至少部分重疊。當接受光源照射時,接著劑可發出預定波長的光穿透透光基板,預定波長的光于透光基板下表面顯示出涂布區域。本發明的彈性體層利用其接著劑或指示劑發出預定波長的光穿透透光基板,使得透光基板下表面顯示出涂布區域,從而能夠判斷彈性體與基板之間的接著程度。

權利要求書

權利要求書
1.  一種彈性體層,其特征在于該彈性體層包括:
透光基板;
彈性體,該彈性體具有彈性體下表面,該彈性體下表面具有預設粘著區,該彈性體設置于該透光基板上方;以及
接著劑,設置于該彈性體下表面與該透光基板之間,該接著劑在該透光基板上占據涂布區域,該涂布區域與該預設粘著區至少部分重疊;
當接受光源照射時,該接著劑發出預定波長的光穿透該透光基板,該預定波長的光于該透光基板下表面顯示出該涂布區域。

2.  如權利要求1所述的彈性體層,其特征在于該彈性體包括相連接的蓋帽及環形接腳,該接著劑粘合該環形接腳與該透光基板,其中該涂布區域呈封閉環形,該蓋帽具有逃氣孔。

3.  如權利要求1所述的彈性體層,其特征在于該涂布區域呈復數段弧形,且相鄰的兩段弧形之間具有間隔。

4.  如權利要求1所述的彈性體層,其特征在于該彈性體于該透光基板上的投影具有投影中心點,該涂布區域呈復數條線段,該復數條線段對稱地分布于該投影中心點四周。

5.  如權利要求1所述的彈性體層,其特征在于該透光基板為麥拉片或薄膜電路板。

6.  一種彈性體層檢驗方法,其特征在于該檢驗方法包括:
提供彈性體層,該彈性體層包括透光基板、彈性體及接著劑,該彈性體具有彈性體下表面,該彈性體下表面具有預設粘著區,該彈性體設置于該透光基板上方,該接著劑設置于該彈性體下表面與該透光基板之間,且該接著劑在該透光基板上占據涂布區域;
以光源照射該接著劑,該接著劑發出預定波長的光穿透該透光基板;
于該透光基板下方接收該預定波長的光,以取得該涂布區域的外形;以及
比較該涂布區域與該預設粘著區的差異,判斷該涂布區域是否合格。

7.  如權利要求6所述的檢驗方法,其特征在于該涂布區域與該預設粘著區的差異面積低于預定門檻值時,則輸出彈性體層檢驗合格的信號。

8.  一種彈性體層,其特征在于該彈性體層包括:
透光基板;
彈性體,該彈性體具有彈性體下表面,該彈性體下表面具有預設粘著區,該彈性體設置于該透光基板上方;
透光接著劑,設置于該彈性體與該透光基板之間,該透光接著劑在該透光基板上占據涂布區域,該涂布區域與該預設粘著區至少部分重疊;以及
指示劑,摻雜于該透光接著劑內,當接受光源照射時,該指示劑可發出預定波長的光穿透該透光基板,該預定波長的光于該透光基板下表面顯示出該涂布區域。

9.  如權利要求8所述的彈性體層,其特征在于該指示劑為熒光劑或染料。

10.  如權利要求8所述的彈性體層,其特征在于該彈性體包括相連接的蓋 帽及環形接腳,該透光接著劑粘合該環形接腳與該透光基板,其中該涂布區域呈封閉環形,該蓋帽具有逃氣孔;或者,該彈性體包括相連接的蓋帽及環形接腳,該透光接著劑粘合該環形接腳與該透光基板,該涂布區域呈復數段弧形,且相鄰的兩段弧形之間具有間隔。

11.  如權利要求8所述的彈性體層,其特征在于該透光基板為麥拉片或薄膜電路板。

12.  一種彈性體層檢驗方法,其特征在于該檢驗方法包括:
提供該彈性體層,該彈性體層包括透光基板、彈性體、透光接著劑及指示劑,該彈性體具有彈性體下表面,該彈性體下表面具有預設粘著區,該彈性體設置于該透光基板上方,該透光接著劑設置于該彈性體下表面與該透光基板之間,該透光接著劑在該透光基板上占據涂布區域,該指示劑摻雜于該透光接著劑內;
以光源照射該透光接著劑后激發該指示劑,藉以顯示出該涂布區域;以及
比較該涂布區域與該預設粘著區的差異,判斷該涂布區域是否合格。

13.  如權利要求12所述的檢驗方法,其特征在于該指示劑為具有特定波長的熒光劑,該光源發出具有該特定波長的光線;或者,該指示劑為染料,該光源用以發出可見光。

14.  如權利要求12所述的檢驗方法,其特征在于該涂布區域與該預設粘著區的差異低于預定門檻值時,輸出彈性體層合格信號。

說明書

說明書彈性體層及其檢驗方法
技術領域
本發明是有關于一種彈性體層及其檢驗方法,且特別是有關于一種具有接著劑的彈性體層及其檢驗方法。 
背景技術
傳統的鍵盤包括彈性體層及數個鍵帽,其中鍵帽設于彈性體層上方。鍵帽被按壓時彈性體層受力形變而儲存彈性位能,當外力釋放后,彈性位能釋放而驅使鍵帽回到初始位置。然而,彈性體層的彈性體與基板之間的接著優劣程度判斷不易。因此,如何判斷彈性體層的彈性體與基板之間的接著程度是本領域業者努力目標之一。 
發明內容
因此,本發明的目的之一在于提供一種彈性體層及其檢驗方法,以解決傳統鍵盤難以判斷彈性體層的彈性體與基板之間的接著程度的問題。 
本發明提供一種彈性體層,該彈性體層包括:透光基板;彈性體,該彈性體具有彈性體下表面,該彈性體下表面具有預設粘著區,該彈性體設置于該透光基板上方;以及接著劑,設置于該彈性體下表面與該透光基板之間,該接著劑在該透光基板上占據涂布區域,該涂布區域與該預設粘著區至少部分重疊;當接受光源照射時,該接著劑發出預定波長的光穿透該透光基板,該預定波長的光于該透光基板下表面顯示出該涂布區域。 
作為進一步可選的技術方案,該彈性體包括相連接的蓋帽及環形接腳,該接著劑粘合該環形接腳與該透光基板,其中該涂布區域呈封閉環形,該蓋帽具有逃氣孔。 
作為進一步可選的技術方案,該涂布區域呈復數段弧形,且相鄰的兩段弧形彼此之間具有間隔。 
作為進一步可選的技術方案,該彈性體于該透光基板上的投影具有投影中心點,該涂布區域呈復數條線段,該復數條線段對稱地分布于該投影中心點四周。 
作為進一步可選的技術方案,該透光基板為麥拉片或薄膜電路板。 
本發明提供一種彈性體層檢驗方法,該檢驗方法包括:提供彈性體層,該彈性體層包括透光基板、彈性體及接著劑,該彈性體具有彈性體下表面,該彈性體下表面具有預設粘著區,該彈性體設置于該透光基板上方,該接著劑設置于該彈性體下表面與該透光基板之間,且該接著劑在該透光基板上占據涂布區域;以光源照射該接著劑,該接著劑,發出預定波長的光穿透該透光基板;于該透光基板下方接收該預定波長的光,以取得該涂布區域的外形;以及比較該涂布區域與該預設粘著區的差異,判斷該涂布區域是否合格。 
作為進一步可選的技術方案,該涂布區域與該預設粘著區的差異面積低于預定門檻值時,則輸出彈性體層檢驗合格的信號。 
本發明提供一種彈性體層,該彈性體層包括:透光基板;彈性體,該彈性體具有彈性體下表面,該彈性體下表面具有預設粘著區,該彈性體設置于該透光基板上方;透光接著劑,設置于該彈性體與該透光基板之間,該透光接著劑 在該透光基板上占據涂布區域,該涂布區域與該預設粘著區至少部分重疊;以及指示劑,摻雜于該透光接著劑內,當接受光源照射時,該指示劑可發出預定波長的光穿透該透光基板,該預定波長的光于該透光基板下表面顯示出該涂布區域。 
作為進一步可選的技術方案,該指示劑為熒光劑或染料。 
作為進一步可選的技術方案,該彈性體包括相連接的蓋帽及環形接腳,該透光接著劑粘合該環形接腳與該透光基板,其中該涂布區域呈封閉環形,該蓋帽具有逃氣孔;或者,該彈性體包括相連接的蓋帽及環形接腳,該透光接著劑粘合該環形接腳與該透光基板,該涂布區域呈復數段弧形,且相鄰的兩段弧形之間具有間隔。 
作為進一步可選的技術方案,該彈性體包括相連接的蓋帽及環形接腳,該透光接著劑粘合該環形接腳與該透光基板,該涂布區域呈復數段弧形,且相鄰的兩個弧形彼此間隔。 
作為進一步可選的技術方案,該透光基板為麥拉片或薄膜電路板。 
本發明提供一種彈性體層檢驗方法,該檢驗方法包括:提供該彈性體層,該彈性體層包括透光基板、彈性體、透光接著劑及指示劑,該彈性體具有彈性體下表面,該彈性體下表面具有預設粘著區,該彈性體設置于該透光基板上方,該透光接著劑設置于該彈性體下表面與該透光基板之間,該透光接著劑在該透光基板上占據涂布區域,該指示劑摻雜于該透光接著劑內;以光源照射該透光接著劑后激發該指示劑,藉以顯示出該涂布區域;以及比較該涂布區域與該預設粘著區的差異,判斷該涂布區域是否合格。 
作為進一步可選的技術方案,該指示劑為具有特定波長的熒光劑,該光源可發出具有該特定波長的光線;或者,該指示劑為染料,該光源用以發出可見光。 
作為進一步可選的技術方案,該涂布區域與該預設粘著區的差異低于預定門檻值時,輸出彈性體層合格信號。 
與現有技術相比,本發明的彈性體層利用其接著劑或指示劑發出預定波長的光穿透透光基板,使得透光基板下表面顯示出涂布區域,從而能夠判斷彈性體與基板之間的接著程度。 
附圖說明
圖1A為依照本發明一實施例的彈性體層設于鍵帽、支撐機構及底板中的剖 
視圖。 
圖1B為圖1A的仰視圖。 
圖2A為依照本發明另一實施例的彈性體層的剖視圖。 
圖2B為圖2A的仰視圖。 
圖3A至圖3B為圖1A的彈性體層的檢驗過程圖。 
圖4為圖1A的彈性體層的另一種檢驗過程圖。 
圖5為圖1A的彈性體層的另一種檢驗過程圖。 
具體實施方式
為使對本發明的目的、構造、特征、及其功能有進一步的了解,茲配合實施例詳細說明如下。 
請參照圖1A及圖1B,圖1A為依照本發明一實施例的彈性體層設置于鍵 帽150、支撐機構160及底板170中的剖視圖(為避免圖式過于復雜,底板170、鍵帽150及支撐機構160均以虛線表示),圖1B為圖1A彈性體層的仰視圖。彈性體層100至少包括透光基板110、彈性體120、接著劑。其中接著劑可為:(1)接著劑的材料透光,其中摻雜有指示劑140,或(2)接著劑的材料本身不透光,接著劑本身就有顏色。 
透光基板110例如是麥拉片(mylar)或薄膜電路板。透光基板110例如是薄膜開關層。舉例來說,透光基板110可包括第一薄膜111、第二薄膜112、間隔層113、第一導電體114及第二導電體115。間隔層113位于第一薄膜111與第二薄膜112之間,且具有開孔113a。第一導電體114形成于第一薄膜111上,而第二導電體115形成于第二薄膜112上,且第一導電體114與第二導電體115相對配置。第一導電體114與第二導電體115的位置對應開孔113a。當鍵帽150受到按壓時會帶動彈性體120形變,形變的彈性體120施壓于透光基板110,使第一導電體114與第二導電體115透過開孔113a電性連接,并透過透光基板110所連接的電路輸出按鍵信號。支撐機構160設置于鍵帽150與透光基板110之間,可活動地連接鍵帽150與透光基板110,使鍵帽150相對于透光基板110(亦即相對于彈性體層100)可上下活動。 
透光基板110具有相對的透光基板上表面110u與透光基板下表面110b。由于組成透光基板110的第一薄膜111、第二薄膜112、間隔層113均可透光,故光線可穿透透光基板,在上表面110u及下表面110b間自由地行進。 
彈性體120設置于透光基板110上方。彈性體120具有彈性體下表面120b,彈性體下表面120b具有預設粘著區R1。本實施例的彈性體120為由透光材料所形成,如此上方光源的光線可穿透彈性體120而照射穿過透光接著劑130,然后 光線再向下繼續行進穿過透光基板110而被觀察到。 
只要透光接著劑130可透光即可,本發明實施例不限定透光接著劑130的透光率。一實施例中,透光接著劑130的透光率可為40%至100%。在此透光率范圍下,光線可穿透透光接著劑130而照射到指示劑140,使指示劑140激發出具有預定波長的光線。此外,在上述透光率范圍下,指示劑140所激發出的具有預定波長的光線足可顯示出透光接著劑130的涂布區域,以便于觀察透光接著劑130的涂布狀況。 
透光接著劑130形成于彈性體下表面120b與透光基板110之間。一實施例中,透光接著劑130可采用網版印刷形成于透光基板110上,然后彈性體120再粘合于透光接著劑130上,以固定彈性體120與透光基板110之間的相對位置。透光接著劑130在透光基板110上占據涂布區域R2。涂布區域R2的面積可大于或等于預設粘著區R1的面積,且涂布區域R2與預設粘著區R1至少部分重疊。當整個預設粘著區R1完全重疊于涂布區域R2時,表示彈性體120與透光基板110的接著狀況優良;當預設粘著區R1與涂布區域R2未重疊的部分超過一定面積時,表示部分彈性體下表面120b未粘合于透光接著劑130,如此可能導致彈性體120與透光基板110的接著性不足或不符合預期。 
指示劑140摻雜于透光接著劑130內。透過指示劑140,可觀察彈性體120與透光基板110的接著優劣程度。詳細來說,由于本實施例的透光基板110、彈性體120及透光接著劑130皆具有透光性,可使光線穿透彈性體120及透光接著劑130,而照射到指示劑140。指示劑140為具有特定波長的熒光劑。當具有特定波長的光線照射到指示劑140時,指示劑140可發出預定波長的光穿透透光基板110,使預定波長的光于透光基板下表面110b顯示出涂布區域R2。藉由 顯示出的涂布區域R2,可觀察涂布區域R2與預設粘著區R1的重疊關系,進而觀察彈性體120與透光基板110的接著優劣程度。上述特定波長可以是屬于不可見光的波段的其中一波長,如此,當其它波段的光線照射到指示劑140時,可避免指示劑140發出預定波長光而去影響鍵帽150的圖案顯示(當鍵帽10為光穿透型鍵帽時)。 
另一實施例中,指示劑140可以是染料。在此設計下,只要光線是可見光,就能顯示出染料的分布,藉此顯示出涂布區域R2的分布,進而觀察涂布區域R2與預設粘著區R1的重疊關系。如此,可觀察出彈性體120與透光基板110的接著優劣程度。 
如圖1A所示,彈性體120包括相連接的蓋帽121及環形接腳122。透光接著劑130粘合環形接腳122與透光基板110。蓋帽121具有至少一個逃氣孔121a,逃氣孔121a連通彈性體120的內部與外界,以使彈性體120內部的空氣透過逃氣孔121a逃逸至彈性體120外。如此,可避免彈性體120的彈性受到空氣的影響而降低。另一實施例中,逃氣孔121a亦可貫穿環形接腳122。如圖1B所示,涂布區域R2呈封閉環形,相較于開放環形,呈封閉環形的透光接著劑130可涵蓋到較多部分的彈性體下表面120b。 
請參照圖2A及圖2B,圖2A為依照本發明另一實施例的彈性體層的剖視圖,圖2B為圖2A的仰視圖,其中圖2A為圖2B沿方向2A-2A’的剖視圖。彈性體層200包括透光基板110、彈性體120、透光接著劑130及指示劑140。 
與上述彈性體120不同的是,本實施例的彈性體120于透光基板110上投影具有投影中心點C1,涂布區域R2呈數條線段R21,此些線段R21實質對稱 地分布于投影中心點C1四周。舉例來說,線段R21可以是弧形,且此些線段R21彼此間隔。數段線段R21之間的間隔A1可作為逃氣孔,使彈性體120內部的空氣透過數段線段R21之間的間隔A1逃逸至彈性體120外,以避免彈性體120的彈性受到空氣的影響而降低。在此設計下,本實施例的彈性體120可選擇性省略逃氣孔121a。另一實施例中,線段R21不限于弧線,亦可為直線或弧形以外的曲線。 
圖3A至圖3B為圖1A的彈性體層的檢驗過程圖。 
以下介紹本發明的一實施例的彈性體層的檢驗方法。 
如圖3A所示,提供檢驗設備10。檢驗設備10包括光源11、影像擷取裝置12及比較單元13。 
如圖3B所示,設置彈性體層100于光源11與影像擷取裝置12之間。 
如圖3B所示,光源11發射光線L1穿透彈性體120及透光接著劑130而照射到摻雜于透光接著劑130內的指示劑140。由于光線L1具有特定波長,且指示劑140為具有所述特定波長的熒光劑,使當光線L1照射指示劑140后,指示劑140激發出預定波長的光穿透透光基板110的透光基板下表面110b。 
如圖3B所示,影像擷取裝置12于透光基板110下方接收到穿透透光基板110的透光基板下表面110b的光線L1,以取得具有涂布區域R2的外形的影像。一實施例中,在適當地設計影像擷取裝置12與彈性體層100的焦距下且/或適當地設計影像擷取裝置12的鏡頭面積下,影像擷取裝置12可以一次擷取各透光接著劑130所占據的涂布區域R2的影像,然本發明實施例不限于一次擷取所有涂布區域R2的影像。 
如圖3B所示,比較單元13可分析涂布區域R2(圖1B)的影像,并比較涂布區域R2與預設粘著區R1(圖1B)的差異,以判斷涂布區域R2是否合格。例如,比較單元13分析涂布區域R2與預設粘著區R1的面積差異,當二者的面積差異低于預定門檻值時,表示彈性體120與透光基板110的接著性為足夠的,則比較單元13輸出彈性體層檢驗合格信號S1;反之,則比較單元13輸出彈性體層檢驗不合格信號S2。 
指示單元14例如是聲音輸出器或顯示器,當比較單元13輸出彈性體層檢驗合格信號S1,指示單元14輸出第一聲音或第一影像;當比較單元13輸出彈性體層檢驗不合格信號S2,指示單元14輸出不同于第一聲音的第二聲音或不同于第一影像的第二影像。 
圖4為圖1A的彈性體層的另一種檢驗過程圖。本實施例中,彈性體層100包含數個排列成陣列狀的透光接著劑130及彈性體120(未繪示),其中各透光接著劑130形成于對應的彈性體120與透光基板110之間。各透光接著劑130于透光基板110上占據涂布區域R2。影像擷取裝置12可沿掃描路徑P1一次擷取一個或一些涂布區域R2的影像,直到擷取完所有涂布區域R2的影像。本實施例中,掃描路徑P1為以左右迂回路徑為例說明;另一實施例中,掃描路徑P1可以是上下迂回路徑、上下迂回路徑、螺旋路徑或其它合適路徑。本實施例的檢驗方法的其余步驟相似于圖3A及圖3B所述實施例的彈性體層100的檢驗方法的對應步驟,容此不再贅述。 
此外,圖2A的彈性體層的檢驗方法相似于圖1A的彈性體層100,容此不再贅述。 
圖5為圖1A的彈性體層的另一種檢驗過程圖。本實施例中,彈性體120與接著劑130’可由不透光材料所形成。檢驗設備10的光源11、影像擷取裝置12均設置于透光基板110下方。以光源11照射接著劑130’,接著劑130’可發出預定波長的光穿透透光基板110,即位于透光基板110下方的光源11所發射光線L1可穿過透光基板110而照射到不透光的接著劑130’,然后光線L1被反射再次穿過透光基板110;于透光基板110下方接收所述預定波長的光,以取得涂布區域的外形,即影像擷取裝置12在透光基板110下方接收光線L1被反射的光線而擷取到涂布區域的影像,如此可觀察到不透光的接著劑130’的涂布輪廓外形。本實施例的檢驗方法的其余步驟相似于圖3A及圖3B所述實施例的彈性體層100的檢驗方法的對應步驟,容此不再贅述。 
與現有技術相比,本發明的彈性體層利用其接著劑或指示劑發出預定波長的光穿透透光基板,使得透光基板下表面顯示出涂布區域,從而能夠判斷彈性體與基板之間的接著程度。 
綜上所述,雖然本發明已以較佳實施例揭露如上,然其并非用以限定本發明。本發明的本領域技術人員,在不脫離本發明的精神和范圍內,當可作各種的更動與潤飾。因此,本發明的保護范圍當視權利要求書所界定的范圍為準。 

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彈性體 及其 檢驗 方法
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