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用于檢測和/或定位作用區域中的磁性材料的設備和方法.pdf

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用于 檢測 定位 作用 區域 中的 磁性材料 設備 方法
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摘要
申請專利號:

CN200980149160.X

申請日:

2009.12.02

公開號:

CN102245094B

公開日:

2014.10.29

當前法律狀態:

授權

有效性:

有權

法律詳情: 授權|||實質審查的生效IPC(主分類):A61B 5/05申請日:20091202|||公開
IPC分類號: A61B5/05; G01R33/28; G01R33/483 主分類號: A61B5/05
申請人: 皇家飛利浦電子股份有限公司
發明人: J·E·拉米爾; J·魏岑埃克; B·格萊希
地址: 荷蘭艾恩德霍芬
優先權: 2008.12.08 EP 08170920.6
專利代理機構: 永新專利商標代理有限公司 72002 代理人: 黃云鐸;陳松濤
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法律狀態
申請(專利)號:

CN200980149160.X

授權公告號:

102245094B||||||

法律狀態公告日:

2014.10.29|||2012.02.01|||2011.11.16

法律狀態類型:

授權|||實質審查的生效|||公開

摘要

在磁性粒子成像(MPI)中,重建需要所謂系統函數的認知。該函數描述了空間位置和頻率響應之間的關系,并且目前對于一種掃描儀設置和一種示蹤劑材料測量一次。為了合理的分辨率和視場,系統函數變得非常大,這導致為了獲得合理信噪比需要大量的采集時間。然而,系統函數具有能夠用于改善信噪比的許多屬性。根據本發明,為了該目的利用空間對稱性和/或在不同頻率處的相同響應。

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