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一種X射線層析設備模擬裝置.pdf

關 鍵 詞:
一種 射線 層析 設備 模擬 裝置
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摘要
申請專利號:

CN201220462255.6

申請日:

20120911

公開號:

CN202821395U

公開日:

20130327

當前法律狀態:

有效性:

有效

法律詳情:
IPC分類號: A61B6/02,G01N23/04 主分類號: A61B6/02,G01N23/04
申請人: 上海聯影醫療科技有限公司
發明人: 劉紅林,章健
地址: 201815 上海市嘉定區上海市嘉定工業區興賢路1180號8棟
優先權: CN201220462255U
專利代理機構: 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 代理人: 鄭瑋
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法律狀態
申請(專利)號:

CN201220462255.6

授權公告號:

法律狀態公告日:

法律狀態類型:

摘要

本實用新型提供了一種X-射線層析設備模擬裝置,X-射線源、被測物體、探測裝置,至少還包括調節系統,所述調節系統用以支撐并調節所述X-射線源、被測物體和探測裝置中任意一個或任意組合的位置、方向或角度。所述模擬裝置能夠模擬X-射線層析設備各種可能的狀態,具有相當的靈活性和通用性。

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本文標題:一種X射線層析設備模擬裝置.pdf
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