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人工假體涂層厚度測定裝置.pdf

關 鍵 詞:
人工 涂層 厚度 測定 裝置
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摘要
申請專利號:

CN201220008606.6

申請日:

20120110

公開號:

CN202505523U

公開日:

20121031

當前法律狀態:

有效性:

有效

法律詳情:
IPC分類號: A61F2/46 主分類號: A61F2/46
申請人: 中國科學院上海硅酸鹽研究所
發明人: 季珩,鄭學斌,黃利平
地址: 200050 上海市長寧區定西路1295號
優先權: CN201220008606U
專利代理機構: 上海瀚橋專利代理事務所(普通合伙) 代理人: 曹芳玲;姚佳雯
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法律狀態
申請(專利)號:

CN201220008606.6

授權公告號:

法律狀態公告日:

法律狀態類型:

摘要

本實用新型涉及一種人工假體涂層厚度測定裝置,所述人工假體包括基材及噴涂于所述基材上的生物涂層,該裝置包括:底座,人工假體定位于所述底座上;固定于所述底座上的活動支架構件;及固定于所述活動支架構件上的厚度測量構件,通過調節所述活動支架構件,所述厚度測量構件配置為與所述人工假體保持相對固定,所述厚度測量構件包括與所述人工假體的表面相接觸的測量頭;所述涂層的厚度由在所述人工假體的表面上噴涂涂層前后的所述測量頭的相對位移確定。

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本文標題:人工假體涂層厚度測定裝置.pdf
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